| autopano-sift-c Autopano-Sift-C - Setaccia Implementazione di rilevamento delle funzioni. |
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autopano-sift-c Classifica e riepilogo
- Nome editore:
- Sebastian Nowozin
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AutoPano-Sift-c - Setacciare l'implementazione del rilevamento delle funzioni. L'algoritmo di rilevamento delle caratteristiche di setaccia è stato inventato e pubblicato da David Lowe presso l'Università della British Columbia. L'algoritmo fornisce la capacità di identificare i punti di funzionalità chiave all'interno delle immagini all'interno. Estrae ulteriormente informazioni altamente distinte per ciascuno di questi punti e consente di caratterizzare il punto invariante a un numero di modifiche all'immagine. È invariante per contrastare / cambiamenti di luminosità, rotazione, ridimensionamento e parzialmente invariante ad altri tipi di trasformazioni. L'algoritmo può essere utilizzato in modo flessibile per creare dati di input per l'abbinamento dell'immagine, l'identificazione dell'oggetto e altri algoritmi relativi alla visione del computer. L'uso dell'algoritmo di setaccio per la creazione di panorama automatico è stato sviluppato da Matteo Brown e David Lowe nel loro documento "riconoscendo panorami". Cosa c'è di nuovo in questa versione: · Questa versione contiene molti bugfix e miglioramenti della velocità, oltre a supporto per l'identificazione delle caratteristiche nello spazio conforme.
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